日本JUNO 替代品 热阻测试仪

日本JUNO 替代品 易恩热阻测试仪
ENR0620 热阻测试系统
系统概述
近年来由于电子产业的蓬勃发展，电子组件的发展趋势朝向高功能、高复杂性、大量生产及低成本的方向。组件的发热密度提升，伴随产生的发热问题也越来越严重，而产生的直接结果就是产品**度降低，因而热管理（thermalmanagement）相关技术的发展也越来越重要。电子组件热管理技术中常用也是重要的考量标准之一就是热阻（thermal   resistance）
 西安易恩电气ENR0620 热阻测试系统，本系统测试原理符合 JEDEC51-1 定义的动态及静态测试方法）运用实时采样静态测试方法（Static Method），广泛用于测试各类 IC（包括二极管、三极管、MOSFET、IGBT、SOC、SIP、MEMS 等）、大功率 LED、导热材料、散热器、热管等的热阻、热容及导热系数、接触热阻等热特性。
测试功能
测试器件	测试功能
IGBT	瞬态阻抗(Thermal Impedance)
从开始加热到结温达到稳定这一过程中的瞬态阻抗数据。
MOSFET	
二极管	稳态热阻(Thermal Resistance)
包括：Rja,Rjb,Rjc,Rjl, 当器件在给一定的工作电流后。热量不断向外扩散，达到了热平衡，得到的结果是稳态热阻值。在没有达到热平衡之前测试到的是热阻抗。
三极管	
可控硅	
线形调压器	装片质量的分析
主要测试器件的粘接处的热阻抗值，如果有粘接层有气孔，那么传热就要受阻，这样将导致芯片的温度上升，因此这个功能够衡量粘接工艺的稳定性。
LED	
MESFET	
IC	可以得到用不同占空比方波测试时的阻抗与热阻值。
	内部封装结构与其散热能力的相关性分析
	多晶片器件的测试
	SOA Test
	浪涌测试
配置 / 系统单元
配置	组成单元
项目	配置	主机	平台软件
功率	2A/10V 	采样单元	测量控制软件
测试延迟时间
（启动时间）	1us 	数控单元	结果分析软件
采样率	1us 	功率驱动单元	建模软件
测试通道数	2（较大 8 个）	测试通道1-8个	
功率放大器	提高驱动能力10~100 倍	扩展选件	
电性规格	系统特征
加热
电流
测量
精度
	低电流
测量	02A 系统: ±1mA 
10A 系统: ±5mA 
20A 系统: (±10mA)	●测试启动时间仅为 1 s，几分钟之内就 可以得到器件的全面热特性；
			●先进的静态实时测量方法，采样间隔较快可达 1 s， 采样点高达 65000 个，有效地**了数据的准确性和完备性；
	高电流
测量	02A 系统: ±4mA 
10A 系统: ±20mA 
20A 系统: (±40mA)	
			●市场上较高的灵敏度 FoM=10000 W/℃，很高的灵 敏度 SNR>4000，
结温测试精度高达 0.01℃；
加热电压测量精度	±0.25% ，	
0~50V 热电偶
测量精度( T 型)	典型 ±0.1°C , 
较大±0.3°C	
		●强大的测试软件和数据分析软件**了后期扩展功能的提升。
交流电压	220VAC，**，50/60Hz	
电压	（标配）50V	
电流	（标配）20A
（选配）200A,400A,800A,1000A	
节温感应电流	1mA, 5mA, 10mA, 20mA, 50mA(标配)	
测试原理
    根据IEDEC静态测量原理，改变器件输入功率，使器件温度发生变化，在达到热平衡之前，ENR0620以1uS的高速采样率实时记录温度随着时间变化的瞬态响应曲线；在得到温度响应后，根据R_thiA=T / P 计算稳态热阻；将上述瞬态响应转换为结构函数形式，方便用户分析器件热流传导路径上的各层结构。系统未采用“脉冲方法”。因为“脉冲方法”采用延时测量技术，限制了测量精度，且“脉冲方法”在测量瞬态温度响应市应非实时记录数据。而是通过人为构建脉冲加热功率来模拟瞬态过程，测试结果的**性无法**。